-  供給最快的測量速度，支撐出產測驗

-  合適出產和研制運用的最高CD和PMD精度及分辯率

-  指定作業波長規模：1260-1640nm（O-L頻帶）

-  二階PMD、GD紋波和其它剖析功能

-  經過拓展可供給增強的PDL精度并在多端口運用中運用

-  運用可測量任何長度的調制相移法進行工業規范丈量

Keysight 86038B承繼了是德科技在色散測量方面的傳統優勢，可經過具有偏振分辯能力的迅速波長掃描測量，對光色散和插入損耗進行全部剖析。它可以一起測量色散（CD）和群時延、偏振模色散（PMD）和DGD、插入損耗（IL）、偏振相關損耗（PDL）以及光長度和相位。工業規范調制相移法（MPS）的完美運用可供給迅速的CD和GD軌道、可靈敏挑選的波長分辯率和極低的噪聲，無需重復進行平均計算。運用具有多種調制頻率的偏振分辯MPS辦法，可對恣意器材長度進行丈量，供給最高的分辯率。

86038B可運用工業規范的調制相移法（MPS）進行GD/CD和DGD丈量。MPS辦法可供給GD和波長分辯率。根本辦法已被IEC 60793-1-42列為規范。該辦法也被記錄到別的規范（例如IEC 61280-4-4）中的DGD和PMD有些。這種辦法只需經過在該指定波長上進行測量即可斷定DGD值，具有高分辯率和低噪聲。

86038B運用合適出產運用的迅速掃描測量。在出產車間中，大吞吐量、迅速投產和下降測驗成本是保證成功的要害。測量成果的可靠性至關重要。86038B上運用的MPS辦法不受熱漂移和機械振動的影響。漂移校對特征可協助取得可重復和安穩的測量成果，即便在不安穩的環境中也不受影響。