日前宣布推出新的功能選件，旨在為 PNA 和 PNA-X 系列微波矢量網絡分析儀(VNA)添加高性能頻譜功能。作為業界首創，此功能選件可以將測試速度加快 10 到 500 倍。VNA 綜合此功能后，即可在表征衛星設備、國防電子器件和商用無線器件中的 S 參數、壓縮和失真之余，還執行高速雜散測量，從而簡化系統連接，節省測量時間。

工程師在執行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內執行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現有測量方法提升 500 倍。測量結果可以與當前最快、最復雜的獨立頻譜或信號相提并論。

微波矢量網絡分析儀VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業界領先的功能使只需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子系統，從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調產物測量;以及其他高階混頻產物測量。

夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入(校正接收機響應誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。

元器件測試事業部微波矢量網絡分析儀PNA 市場經理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺儀器中執行高性能頻譜和網絡測量，可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創新還可以取代開關矩陣和獨立的頻譜，進而滿足日益重要的、減小元器件表征體積的需求。”

每一臺 Keysight VNA微波矢量網絡分析儀 都充分體現了在線性和非線性器件表征方面的專業水平。當您在研發實驗室中和生產線上執行設計和測量時，PNA 系列的卓越性能能夠為您帶來前所未有的幫助